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液晶高阻四探針測試儀四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測量、參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語言版本.
液晶高阻四探針測試儀 四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測量、參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀器四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動(dòng)數(shù)據(jù)測量,系數(shù)補(bǔ)償,參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀器四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動(dòng)數(shù)據(jù)測量,系數(shù)補(bǔ)償,參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
四探針液晶電阻率測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測量結(jié)果的影響.
四探針方阻電阻率測試儀用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品