半自動(dòng)四探針觸屏測試儀晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1228B

更新時(shí)間：2025-02-09

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

電工儀表

靜電測試儀其它電工儀表交直流電源阻抗測試儀電力行業(yè)發(fā)生器測高儀變壓器測試儀電容電感測試儀諧波分析儀電力質(zhì)量分析儀繼電保護(hù)測試儀絕緣子測試儀伏安表頻率表周波表指示儀相序表電流表電流測定儀電纜故障測試電壓電阻測試儀

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關(guān)鍵詞：半自動(dòng)四探針觸屏測試儀

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產(chǎn)品用途：

半自動(dòng)四探針觸屏測試儀四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

儀器特點(diǎn)：

晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號(hào)	BX-Y1228B
1.電阻	10-4～1×107Ω
2.方塊電阻	10-4～1×107Ω/□
3.電阻率	10-5～2×108Ω-cm
4.測試電流	10mA ---200pA
5.電流精度	±2%
6.電阻精度	≤10%
7.PC軟件操作	PC軟件界面：電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號(hào)，測試點(diǎn)數(shù)統(tǒng)計(jì)報(bào)表生成等
8.探針范圍選購：	探針壓力為100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動(dòng)調(diào)節(jié)
9.探針	針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機(jī)械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制
10.可測晶片尺寸選購	晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式	自動(dòng)或手動(dòng)單點(diǎn)模式
12.加壓方式	測量重復(fù)性：重復(fù)性≤3%
13.防護(hù)功能	具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào)
14.測試環(huán)境	實(shí)驗(yàn)室環(huán)境
15.電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<100W
16.選購項(xiàng)目	電腦和打印機(jī)